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2025年04月04日 星期五

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  • BMG2 20NM230V

  • 更新时间:2025-04-04
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BMG2 20NM230V这款 SmartFusion2 器件提供 82 个 I/O,其中 70 个能够连接到 3.3V,12 个可以本地连接到 2.5V 或通过电阻分压器连接到 3.3V。此外,对于需要高速通信的情况,可以使用一个收发器对,其运行速度高达 5 Gbps 并支持 PCIe Gen2。片上 Arm M3 微控制器也可用于典型的内务管理和通信目的。

由于 SmartFusion2 的功耗优化架构及其产生的小自发热,该器件可以在接近大指定温度范围 (100°C/125°C) 的环境温度下运行。为了准确估计器件的功耗和自发热,建议将微芯片功耗估算器用于SmartFusion2 SoC和Igloo2 FPGAPolarFire FPGA和SoC

如上所述,编码器数据通常是关键型的,要求FPGA设计也获得认证或具有混合的关键级别。Microchip通过SmartFusion2 / Igloo2包(链接在这里)支持此类认证。SmartFusion2 和 Igloo2 设备已通过 IEC 61508 功能认证,基于使用验证。相应的包包含认证的开发环境Libero SoC 18.3 SP4,FPGA设计中经常需要的28个IP核,这些设备和实用程序的手册,用于计算硬件故障概率。

由于Microchip FPGA和SoC不受配置存储器上的单事件翻转(SEU)的影响,因此性硬件故障是讨论所需的FIT计算的因素。FIT 代表 failure itime,1 FIT 等于 109 小时内的一次故障。对于典型的基于SRAM的FPGA,SEU引起的软FIT取决于所选器件的确切架构和复杂性,通常在约400 FIT的范围内。考虑到相关功能通常只占用FPGA结构的一小部分。在此软 FIT 之上,还添加了性故障。

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